CMS2 利用電解進行退鍍測量塗層厚度 膜厚儀 CMS2
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COULOSCOPE CMS2 系列的儀器是利用電解進行退鍍，進而測量塗層厚度。尤其是，可透過庫倫法精準地測定任何種類基質上的多層塗層。CSM2 STEP 版本可對單層塗層進行符合標準的 STEP 測試測量，亦可偵測電位差 (如多層鍍鎳的品質控制)。
特性：
採用高準確性的電解退鍍技術 (庫侖法)，可精準測量多層塗層
配備顯示器和支援圖形的使用者指南，操作簡單
應用範圍廣：可測量金屬和非金屬基質上的塗層，亦適合測量多層塗層
完整的配件組合供您選擇，適合特定要求
應用：
金屬和非金屬基質上任何種類的金屬塗層
單層及多層的塗層厚度測量
特別適用於透過 STEP 測試進行多層鍍鎳的測量
適用於 0.05 µm 至 40 µm 的塗層厚度
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