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MCP-T700　低阻抗率計 MCP-T700型 (桌上型）

MCP-T700

低阻抗率計 MCP-T700型 (桌上型）

Loresta-GX

廠牌：日東精工分析科技
供應商：南北貿易有限公司 日東精工分析科技(三菱化學分析科技) 台灣總代理
聯絡電話：04-22994269
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低阻抗率計 MCP-T700型 (桌上型）-行動條碼QR Code

日東精工 台灣總代理 南北貿易有限公司

 
 

低阻抗率計GP MCP-T610型

商品規格

商品名稱：

低阻抗率計 MCP-T700型 (桌上型)
Loresta-GX

特色：

維持安定之高品質，依據世界唯一之四探針理論之高精度之阻抗率計
單體使用系統構築，用於生產技術、品質管理、研究開發

適用對象：

導電性油漆、導電性漿糊、導電性塑膠、導電性橡膠、導電性薄膜、靜電材料、EMI屏蔽材料、導電纖維、導電陶瓷、半導體材料、LCD、TFT、ITO玻璃、晶元、手機外殼、手提電腦外殼、磁碟片…等

顯示器：

7.5吋彩色可觸控液晶螢幕，[Ω], [Ω/sq.], and [Ω‧cm]一觸直讀數據

測定範圍：

10-4～107Ω

測定精度：

±0.5%

儲存數據：

USB flash memory

樣品保護功能：

測定電壓 10V及 90V可選定切換

尺寸：

約 320 W× 285 D× 110 Hmm, 2.4KG

 

標準配備

 

ASP探頭

ASP探頭 MCP-TP03P(RMH110)《四探針探頭》

利用價值廣泛標準探頭JIS K7194對應，
Pin間 5mm，Pin尖 0.37R×4支，壓力 210g/支，

 

 

 

ASP, ESP之探頭檢驗片

MCP-TRF1 (RMH304)探頭檢驗片

ASP, ESP, LSP探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之)

 

 

 

選購品

 

ESP探頭

ESP探頭 MCP-TPO8P(RMH114)《四探針探頭》

不均一樣品用
Pin間 5mm，Pin尖 2mm×4支，壓力 240g/支，

 

PSP探頭

PSP探頭 MCP-TP06P(RMH112)《四探針探頭》

小樣品或薄膜用
Pin間 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，壓力 70g/支，

 

QPP探頭

QP2探頭 MCP-TPQP2(RMH119)《四探針探頭》

微小樣品用
Pin間 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，壓力 70g/支，

 
TFP探頭

TFP探頭 MCP-TFP(RMJ217)《四探針探頭, 特殊用探頭》

Thin films on Si wafer用 
Pin間 1.0mm，Pin尖 0.15R×4支，壓力 50g/支

 

NSCP探頭

NSCP探頭 MCP-NSCP(RMJ202)《四探針探頭, 特殊用探頭》

Silicone wafer用 
Pin間 1.0mm，Pin尖 0.04R×4支，壓力 250g/支

 

BSP探頭

BSP探頭 MCP-TP05P(RMH111)《四探針探頭, 特殊用探頭》

大樣品用
Pin間 2.5mm，Pin尖 0.37R×4支，壓力 210g/支

 

TFP探頭

LSP探頭 MCP-TPLSP(RMH116)《四探針探頭, 特殊用探頭》

Soft surface samples用
Pin間 5.0mm，Pin尖 2mm×4支，壓力 130g/支

 

A探頭

AP2探頭 MCP-TPAP2 (RMH333)《二探針探頭》

 

 

B探頭

BP探頭 MCP-TPBP(RMH118)《二探針探頭》

大樣品用
Pin尖 Ø 2×2支，壓力 240g/支

 

PSP之探頭檢驗片

MCP-TRPS(RMH311) 探頭檢驗片

PSP探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之)

 

TFP, NSCP之探頭檢驗片

MCP-TRTF(RMH312) 探頭檢驗片

TFP, NSCP探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之)

 

TFP, NSCP之探頭檢驗片

MCP-TRT2 (RMH335) 探頭檢驗片

AP2,BP探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之)

 
TFP, NSCP之探頭檢驗片

MCP-TRQP2 (RMH313) 探頭檢驗片

QP2探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之)

 

腳踏開關

MCP-FS02 (RMJ802) 腳踏開關

 

絕緣板UFL

MCP-ST03(RMJ354) 絕緣板UFL

尺寸 300W×200L×10Hmm

 

 

阻抗量測設備；阻抗計；阻抗率計；高阻計；低阻計；高阻抗計；低阻抗計；高阻抗率計；低阻抗率計；Resistivity meter；抵抗率計；阻抗分析儀；表面阻抗計；桌上型低阻抗率計；手持式阻抗率計；四點探針；半導體系列；

高精確阻抗率計檢測法


前言
科技快速進步，電子半導體的開發及應用，往往會應產品的需求而相對提高成品組合間的品質，如:阻抗、阻抗率。目前在半導體業間常需要此阻抗、阻抗率的數據來了解其相互之間問題。由於以傳統的方式來測量需要耗費人力、物力及大量時間去套入公式以求得結果，造成檢測中一大困擾，因此，日東精工分析科技便研發了更方便的測量儀器來解決，不用再計算繁瑣的公式了。符合了國際間的ISO 1853、ISO 2878、ASTM D991、JIS K 7194、JIS R 1637。


1-1 概念(測定原理)
Resistance阻抗：阻抗被用於不同狀態和物質性質，是做阻抗是隨物質形狀、大小、測定位置不同而變化。
Resistivity阻抗率：阻抗率乃為阻抗（Ω）乘以阻抗率校正因數（RCF）而來，通常，它要經過一番努力煩瑣的計算出校正因數後，才能換算得知。而日東精工微電腦阻抗率計能於短時間內輕易的精確處理出物質阻抗率。
阻抗：測值會隨條件變化的。
阻抗率：是對絕對值，對每個物質來說它只有一個測值。
例：測量黃金時

Resistance（Ω）
2.4× 10-8 Ω big< 2.4× 10-6 Ω bigger< 2.4× 10-2 Ω

Resistivity（Ωcm）
2.4× 10-6 Ωcm changeNo.＝ 2.4× 10-6 Ωcm changeNo.＝ 2.4× 10-6 Ωcm

“Ω”or“Ωcm”- which will you use for evaluating materials?

“Resistivity” is a simple index for classifying all the materials in the world.

 

1-2 阻抗（Resistance）和阻抗率計（Resistivity）之間的關係


～關鍵在阻抗率校正因數（RCF） ～
♦ Resistance阻抗（R），阻抗=電阻
當一個電流（I）流穿一物質，其電的阻抗乃緣由入口與出口間有一電位差（V）造成，故以公式表此關係即歐姆定律(Ohm’s law)。
阻抗R（Ω）=V[V]/I[A]


♦ Volume Resistivity體積阻抗率（ρν），阻抗率=電阻係數
表示物質每單位體積之阻抗。
“體積阻抗率”也叫做”特殊阻抗Specific Resistance”或”阻抗率”
“體積阻抗率”是大部分利用於物質方面之用詞；
“特殊阻抗”是共通於電學方之用詞；
“阻抗率”常被用在物理學方面之用詞。
體積阻抗率 ρν [Ωcm] ＝R [Ω] × RCF× t
此單位“Ωcm”讀為“厘米歐姆”每一物質為有一單一特性值為體積阻抗率。

※Condductivity電導率（σ）
電導率是體積阻抗率的相反，它又被叫“電的電導率”或“電導係數”。
電導率 σ [ /cm ]＝1/ρν，此單位是“S/cm”讀做每厘米西門子。


♦ Surface Resistivity表面阻抗率（ρs）

表示物質每單位表之阻抗。
“表面阻抗率”也叫做“單張阻抗”其單位為“Ω”。然而為了要和阻抗（Resistance）區分，所以被寫為“Ω/□”或“Ω/sq”讀為“每歐姆平方”。
表面阻抗率因材質厚度不同而變化，所以通常被利用於塗裝或薄膜方面，相反的，它可被利用於厚度的判斷指標。
表面阻抗率 ρ[ Ω/sq ] ＝ R[ Ω ] × RCF ＝ ρν× 1/t

♦ Resistivity Correction Factor阻抗率校正因數（RCF）
通常以金屬電極（4針探頭）固定於樣品表面以測得阻抗。
阻抗乘以阻抗率因素而計算出體積阻抗率及表面阻抗率。 阻抗因數是依電極之形號、尺寸、內針距離或樣品之形狀、尺寸，測定位置而被確定求出。
利用Poisson’s方程式可精確的求出於電磁學的確定電位。

1-3 阻抗率之計算 [傳統方法]
～阻抗率是物質之絕對值～

Resistance R（Ω）= V[V]/I[A]
Volume Resistivity ρ[Ωcm]＝R [Ω] ×W/1× t
Surface Resistivity ρs [Ω/sq]＝R [Ω] ×W/1＝ρν×1/t


 MCP-T700 Loresta-GX

Accurate and quick measurement of materials’ resistivity 4 Terminal 4 Pin Method

High accuracy with eliminating contact resistance between sample and probe and lead wire’s resistance

MCP Probes’ spring contact method keeps constant pin pitch, pressure and contact area on samples

低阻抗率計GP MCP-T610型

 

 Standard Configuration

Type of Measurement：

MCP-T700 Loresta-GX

Features：

Expanded measuring range:0.001×10-4~9.999×107Ω

Operability on 7.5 inch color LCD touch screen

One-touch operation :Automatic measurement with functional Auto-hold and Timer Mode

Silicon Mode for silicon wafer measurement

Low conductive materials are acceptable by Selectable Applied Current Function

Current polarity reversing makes stable measurement

Applications：

Conductive paint, Conductive ink, Conductive paste, Resistive paste(carbon etc.), Conductive plastics,

 
 

 

 Standard equipment

 

ASP探頭

ASP MCP-TP03P (p/n RMH110)

Standard, Pin Interval 5mm,

Pin Top 0.37R ×4 pins

Pushing Pressure 210g/Pin

 

 

 

ASP, ESP之探頭檢驗片

MCP-TRF1 (p/n RMH304)

Linear 4 Pins, 1Ω

For ASP, ESP, LSP Probes

 

 

 

 

 Option

 

ESP探頭

ESP MCP-TP08P (p/n RMH114)

For non homogeneous samples,

Pin Interval 5mm,

Pin Top ψ2 × 4 pins

Pushing Pressure 240g/Pin

 

PSP探頭

PSP MCP-TP06P (p/n RMH112)

For small samples,

Pin Pitch 1.5mm,

Pin Points 0.26R × 4 pins

Spring pressure 70g/Pin

 

QPP探頭

QP2 MCP-TPQP2 (RMH119)

For very small samples,

Pin pitch 1.5mm

Pin points 0.26R × 4pins

Spring pressure 70g/pin

 
NSCP探頭

TFP MCP-TFP (PMJ217)

For thin films on Si Wafer,

Pin pitch 1.0mm

In points ψ0.15 × 4pins

Spring pressure 50g/pin

 

NSCP探頭

NSCP MCP-NSCP (PMJ202)

For Silicon Wafer,

Pin pitch 1.0mm

In points ψ0.04 × 4pins

Spring pressure 250g/pin

 

BSP探頭

BSP MCP-TP05P(RMH111)

For very large samples,

Pin pitch 2.5mm

Pin points 0.37R × 4pins

Spring pressure 210g/pin

 

TFP探頭

LSP MCP-TPLSP (RMH116)

For soft surface samples,

Pin pitch 5mm

Pin top hemisphere

2mm × 4pins

Spring pressure 130g/pin

 

A探頭

AP2 MCP-TPAP2 (RMH333)

 

 

B探頭

BP MCP-TPBP (p/n RMH118)

Resistance by 2 parts: Each part has apin,

In interval free,

Pin top ψ2 × 2 pins

Pushing pressure 240g/Pin

 

PSP之探頭檢驗片

MCP-TRPS (p/n RMH311)

Linear 4 Pins, 1Ω,

for PSP probe

 

TFP, NSCP之探頭檢驗片

MCP-TRTF (p/n RMH312)

TFP, NSCP

 

TFP, NSCP之探頭檢驗片

MCP-TRT2 (p/n RMH335)

2 Pins, 1Ω,

For AP2 probes

 
TFP, NSCP之探頭檢驗片

MCP-TRQP2 (p/n RMH313)

4 Pins, 1Ω,

For QP2 probes

 

腳踏開關

MCP-FS02 (p/n RMJ802)

 

絕緣板UFL

MCP-ST03 (p/n RMJ354) UFL

300W×200L×10Hmm

Probe should be placed perpendicularly on samples.

 

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產品關鍵字：

阻抗計； 高阻抗率計； 低阻抗率計； 高/低阻抗計； 低阻抗率計 MCP-T700型 (桌上型）； 三菱化學株式會社； 電壓電流電力抵抗測定器、靜電計； Loresta-GX； 南北貿易有限公司； 日本三菱化學株式會社(台灣總代理)； 翔貿儀器有限公司； 高/低阻抗計-三菱化學； 電壓電流電力抵抗測定器； 靜電計； 低阻抗率計 MCP-T610型 (桌上型）； 高/低阻抗率計-三菱化學； 低阻抗率計 MCP-T700型 (桌上型）三菱化學ANALYTECH CO.,LTD.； 阻抗量測設備； 阻抗計； 阻抗率計； 高阻計； 低阻計； 高阻抗計； 低阻抗計； 高阻抗率計； 低阻抗率計； Resistivity meter； 抵抗率計； 阻抗分析儀； 表面阻抗計； 桌上型低阻抗率計； 手持式阻抗率計； 四點探針； 半導體系列； 阻抗率計-日東精工； 日東精工分析科技；

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