挑戰ATE設備 PXI展現RF測試優勢

傳統半導體RF元件的測試，均需透過笨重且昂貴的ATE（自動化測試）設備來進行，過程耗時，且十分不經濟。面對這樣的問題，市場似乎需要更有彈性、更低成本、且維持高可靠度的新型態儀器設備。也因此，完全具備這些優勢的PXI模組化儀器，正好扮演了RF市場的救世主角色。

NI行銷經理郭皇志指出，事實上隨著近年來無線通訊市場的蓬勃發展，RF元件的測試挑戰早就成為相關廠商心中最大的隱憂，特別是傳統ATE儀器動輒高達數千萬元的購置成本，與接腳數過多的低彈性，讓測試過程所費不貲。面對ATE設備成為測試過程中的痛，量測廠商以更具優勢的儀器來取代傳統ATE設備成為當務之急。而PXI模組化儀器的出現，也直接解決了困擾業者已久的測試問題。

郭皇志說，其實PXI儀器的優勢，早早就體現於測試市場之中。與ATE設備相較，PXI儀器的購置成本僅需ATE的十分之一，且具備高度彈性，不必像過去需以過多接腳的ATE設備來測試RF元件。這已經在RF測試市場造成很大的迴響。不僅價格方面已經擁有極大的競爭力，且NI積極透過併購包括AWR與Phase Matrix等廠商，來進一步掌握RF關鍵技術，藉以提升PXI儀器的RF測試能力。

當然，PXI RF儀器儘管已在RF測試市場穩佔一席之地，只不過高速數位訊號仍是PXI儀器的最大罩門，使得ATE設備在固有疆域還是站有穩定基礎，例如高速數位與高功率電源晶片等測試市場，目前仍由ATE所穩固把持。

事實上，PXI RF儀器的出現，適時填補了原本市場上所缺乏的低價格與低接腳儀器產品這個區塊，著實讓RF儀器方案採購人員笑顏大開。在這些優勢的催化下，PXI儀器未來在RF元件測試市場，勢必將持續奪下更高的佔有率。