複製型電子顯微鏡 Replica electron microscope

本型顯微鏡的分解能力近乎相等於它所使用的光線之波長,所相片可以得十分 高的放大率。當電子射束經過瞄準後,它會通過試樣,部份會被吸收,其餘的複 試樣所折射,此折射之電子束會被對物磁線圈和視覺磁線圈所放大,故能在螢 幕或底片上產生一個和原始樣類相的顯微影像。