兩用型膜厚計 (Elektro-Physik/德國) 

型  式 : MiniTest 650FN (非破壞式)  

   1.電腦編號 : S-MINITEST650FN。

   2.規 格: 適用於鐵金屬底材上非磁性塗膜及非磁性金屬底材上非傳導性塗膜之膜厚量測，單一測頭自動轉換。

   3.測試範圍: 磁性 0～2000um (0～80mil)。

                     非磁性 0～2000um (0～80mil)。

   4.精 度: ±(讀值2% + 2um)。

   5.顯 示: LCD 數字顯示(字體 11mm)/背光式。

   6.測量單位:  um – mil 使用者選擇切換。

   7.統計分析(最多9999個讀值): 平均值、標準值、偏差值、最高值、最低值、測試個數。

   8.介面: USB。

   9.被測物面積: 底材厚度 Fe0.5mm，NFe0.05mm 。

                        平面直徑 20mm 以上。

                        彎曲凸面半徑 5mm 以上。

                        彎曲凹面半徑25mm 以上。

 10.儀器尺寸: 70 x 122 x 24mm，測頭∮15mm x 62mm 長。

11.儀器符合BS,DIN,ASTM,ISO標準。

   附 件: 零點板二塊、標準校正片一組、攜帶皮套一個、操作說明書一份。

兩用型膜厚計 (Elektro-Physik/德國) 

型  式 : MiniTest 650FN (非破壞式)  

   1.電腦編號 : S-MINITEST650FN。

   2.規 格: 適用於鐵金屬底材上非磁性塗膜及非磁性金屬底材上非傳導性塗膜之膜厚量測，單一測頭自動轉換。

   3.測試範圍: 磁性 0～2000um (0～80mil)。

                     非磁性 0～2000um (0～80mil)。

   4.精 度: ±(讀值2% + 2um)。

   5.顯 示: LCD 數字顯示(字體 11mm)/背光式。

   6.測量單位:  um – mil 使用者選擇切換。

   7.統計分析(最多9999個讀值): 平均值、標準值、偏差值、最高值、最低值、測試個數。

   8.介面: USB。

   9.被測物面積: 底材厚度 Fe0.5mm，NFe0.05mm 。

                        平面直徑 20mm 以上。

                        彎曲凸面半徑 5mm 以上。

                        彎曲凹面半徑25mm 以上。

 10.儀器尺寸: 70 x 122 x 24mm，測頭∮15mm x 62mm 長。

11.儀器符合BS,DIN,ASTM,ISO標準。

   附 件: 零點板二塊、標準校正片一組、攜帶皮套一個、操作說明書一份。